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光學(xué)輪廓儀是一款用于對各種精密器件表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實現(xiàn)器件表面形貌的3D測量的光學(xué)檢測儀器。光學(xué)輪廓儀采用光學(xué)非接觸式測量方法，它具有測量精度高、使用方便、分析功能強大、測量參數(shù)齊全等優(yōu)點，其*的光源模式，保證了它能夠適用于從光滑到粗糙等各種精密器件的表面質(zhì)量檢...

隔振臺為緊湊型的主動隔振系統(tǒng)，是納米技術(shù)大型儀器隔振的最佳解決方案。對升級和整合到現(xiàn)有的需要低頻隔振功能的設(shè)備來說是理想的選擇，本產(chǎn)品可自由選擇整個系統(tǒng)的尺寸大小和配置，通過增加隔振模塊的數(shù)量可以增大系統(tǒng)的承重。裝載設(shè)備：掃描電子顯微鏡，如AFM3D表面分析儀，激光顯微鏡，激光干涉儀，液體表面張力測量系統(tǒng)，顯微硬度測量儀，醫(yī)療檢測設(shè)備等。隔振臺的分類：隔振技術(shù)分為主動隔振和被動隔振：1、主動隔振：通過傳感器和執(zhí)行器，提供大小相等，方向相反的力，抵消振動對目標的影響；2、被動隔...

三維形貌儀是一款便攜式表面形貌測量儀，采用白光共聚焦技術(shù)，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點，該儀器的測量探頭可以任意旋轉(zhuǎn)，適合精密測量不可移動樣品表面形貌，同時適合進行野外測試。本儀器是利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精密表面輪廓測量儀器。照明光束經(jīng)半反半透分光鏡分成兩束光，分別投射到樣品表面和參考鏡表面。從兩個表面反射的兩束光再次通過分光鏡后合成一束光，并由成像系統(tǒng)在CCD相機感光面形成兩個疊加的像。由于兩束光相互干涉，在CC...

光學(xué)形貌儀除了用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，表面形貌儀具有測量晶圓翹曲度的功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應(yīng)變測量以及表面形貌測量。光學(xué)形貌儀的使用特點說明：1、光學(xué)形貌儀測量材料能夠使材料不被損壞，具有非破壞性。能夠同時測量多種材料，不僅方便快捷，還能保證測量的準確度，大大節(jié)省了工作人員的時間，具有很高的效率性和便利性。2、測量范圍廣，應(yīng)用性強。不管是各種金屬、塑料、玻璃、紙、木頭，還是皮膚、牙齒、頭發(fā)以及各種材料，形貌儀都可以測量。3、采用白光共...

橢圓偏振儀是一種用于探測薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)的光學(xué)測量設(shè)備。由于并不與樣品接觸，對樣品沒有破壞且不需要真空，使得橢偏儀成為一種具吸引力的測量設(shè)備?；驹恚簷E圓偏光法涉及橢圓偏振光在材料表面的反射。為表征反射光的特性，可分成兩個分量：P和S偏振態(tài)，P分量是指平行于入射面的線性偏振光，S分量是指垂直于入射面的線性偏振光。菲涅耳反射系數(shù)r描述了在一個界面入射光線的反射。P和S偏振態(tài)分量各自的菲涅耳反射系數(shù)r是各自的反射波振幅與入射波振幅的比值。大多情況下會有多個界面，...